X熒光射線測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)信息

無(wú)損檢測(cè)：采用 X 射線熒光技術(shù)，在不破壞樣品的前提下完成厚度測(cè)量，這對(duì)于一些珍貴樣品或不允許破壞的產(chǎn)品檢測(cè)尤為重要。例如，在文物保護(hù)領(lǐng)域，對(duì)于古代金屬器物表面鍍層厚度的測(cè)量，費(fèi)希爾 X 熒光射線測(cè)厚儀能夠在不損傷文物的情況下提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。

測(cè)量范圍廣：能夠測(cè)量從極薄的鍍層到較厚的材料，元素測(cè)量范圍涵蓋從氯（17）到鈾（92），最多可同時(shí)測(cè)量 24 種元素、23 層鍍層。無(wú)論是簡(jiǎn)單的單鍍層結(jié)構(gòu)，還是復(fù)雜的多層合金鍍層，都能準(zhǔn)確測(cè)量。

自動(dòng)化程度高：部分型號(hào)如 XDL 240 具備自動(dòng)化的工作臺(tái)移動(dòng)和測(cè)量流程控制功能，減少了人為操作誤差，提高了測(cè)量效率和準(zhǔn)確性。在工業(yè)生產(chǎn)線上，能夠快速、連續(xù)地對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行厚度檢測(cè)，為生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量控制提供及時(shí)反饋。