FISCHERSCOPE X-RAY XDL240

簡要描述：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240，?FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術(shù)，因此能夠為任何測量任務(wù)提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

更新時間：2024-03-19

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

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產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,綜合

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應(yīng)一臺儀器，三種作業(yè)模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設(shè)備，它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應(yīng)MMS PC2采用不同測量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關(guān)的各種需求。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應(yīng)CMS2臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應(yīng)GOLDSCOPEGOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計的XAN用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。XUL / XULM基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

XDL / XDLM / XDAL功能強(qiáng)大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。